多晶硅少子寿命测试仪
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一、多金硅少子寿命测试仪产品特点:

 

 

1、可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光,直接对切割面或研磨面进行测量。
2、可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命,表面无需抛光、钝化。
3、液晶屏上直接显示少子寿命值,同时显示动态光电导衰退波形。

 

二、多金硅少子寿命测试仪技术参数:

 

 

配置两种波长的红外光源
1、 1.07μm波长红外光源,光穿透硅晶体深度较深≥500μm,有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。
2、 0.904~0.905μm波长红外脉冲激光器,光穿透硅晶体深度较浅≈30μm,但光强较强,有利于测量低阻太阳能级硅晶体。

 

三、多金硅少子寿命测试仪 测量范围:
1、 研磨或切割面:电阻率≥0.5Ω·㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命,切割片的少子相对寿命。
2、抛光面:电阻率在0.1~0.01Ω·㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。

 

四、多金硅少子寿命测试仪寿命可测范围:
1、分体式:2μS—10ms
2、 一体式:0.5μS—20ms

 公司郑重承诺:
1.购机前,我们专门派技术人员为您设计的流程和方案
2.购机后,将指派技术人员为您调试安装
3.整机保修一年,产品终身维护
4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用