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Agilent

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Agilent 5975C Series GC/MSD

修造在产业领导、可靠性和表现的一个固定基础，与新的三倍轴探测器的Agilent 5975C系列GC/MSD合并重大产品提高改进分析表现和采取您的实验室到下个生产水平。

高温，坚实惰性离子源促进生产力

私有的惰性来源履行三个根本要求。 惰性使活跃，中立分子减到小损失从GC的。 高温(350 ?C)支持高峰形状甚而高沸腾化合物的和使从高沸腾矩阵的污秽减到小。 一个新颖的透镜元素优选地延伸到四极对调动离子入RF/DC领域的中心的S/N的在产业。

黄金本位制四极的设计和表现

独特的四极有未被超越的表现和可靠性。 不管操作温度，这个真实的双曲线石英结构将给更低的领域错误，更好的决议和雄伟许多轴稳定。 实际上，整体石英的卓越的稳定准许分析仪温度由?C保证分析仪洁净在MSD的生活中的200决定。

三倍轴探测器

三倍轴取向安置HED-EM加倍off-axis从传输四极的轴。 这演变变动允许离子汇集是化(增加的信号)，并且在off-axis探测器之下将减少的中立噪声设计。 探测器也介绍与增加的放大作用和长寿的一个新的三倍渠道乘算器。 EM的Agilent的新的获取正常化的优化保证在离子计数、线性和EM之间的优选的平衡估计寿命。 此外，获取正常化意味在EM和一致的离子的老化的期间一致的敏感性计数在多个GC/MSD系统之间。

踪影离子侦查和重叠合法软件(DRS)的第二代提供痕量分析的真正的表现改善在复杂矩阵

追踪离子侦查数位过滤从基础线、峰顶和光谱的噪声改进侦查有或没有DRS。 为coelution问题在复杂的样品发现了， NIST AMDIS的重叠合法力量是为痕量分析的后工具由GC/MS。 在重叠合法以后， “被清洗的”光谱提供更好的图书馆查寻结果，并且量化根据deconvoluted峰顶减少在MS目标离子的错误。 ChemStation充分地集成AMDIS结果QEdit，并且起作用，因此分析员能迅速比较标准和deconvoluted结果。 使用踪影离子侦查和DRS，方法检测极限(MDL)和极限测量(LOQ)是更低的。 假阳性和错误地否定为对数据的的信心减少。

高性能选择的离子监视(SIM)和充分的扫瞄

同步SIM/Scan功能夺取SIM数据和在同样承购的充分的扫瞄数据，没有在分析表现的妥协。 SIM停留时间可以从100 msec到在1 msec增加的1 msec被设置。 AutoSIM改变信仰者自动地扫描数据入SIM或SIM/scan承购参量挽救方法的设定时间与许多峰顶。

改进生产力，低成本并且增加分析力量的毛细流动技术

与惰性，低大量，低死容量设备和无泄漏的第5个世代EPC，在烤箱连接创造了提高能力和表现的许多GC配置。 对于对与晚洗脱的矩阵峰顶的复杂样品的GC/MS分析，反冲洗是一个根本工具。 更短的分析、较少来源清洁和更长的专栏生活是所有实验室的可贵的好处。 血丝分离机和教务长交换简化并且改进补全侦查计划的可靠性例如MSD-ECD和心脏切口方法。 ChemStation控制，这些作用可以一样定期地使用象简单的GC/MSD方法。

GC/MS软件帮助您做多数每奔跑和每个工作日

Agilent MSD生产力ChemStation软件使容易甚而对非操作员利用Agilent 5975C GC/MSD的所有力量。 先进的能力包括：

• 二个GC/MS系统控制从MSD ChemStation的
• 多才多艺的CTC PAL自动取样器的联合控制可能促进您的与自动化的样品准备(可利用的选择)的实验室的产品。
• eMethods功能允许您分享和高效率地分布横跨多个实验室的方法或通过应用方法节省研制时间从Agilent网站。
• 锁的停留时间(RTL)不管操作员、探测器类型和专栏维护，给您横跨系统的反复性的停留时间。 与Agilent或用户建立的数据库的组合，它将迅速让您筛选未知的峰顶有增加的信心。
• 每次保证更加准确的结果的自动调整EI、PCI和NCI方式的。
• 要估计未校正的化合物的集中的SemiQuant能力
• 与企业内容管理(ECM)的综合化使容易在您的实验室存放，检索和组织引起的所有电子数据-包括您的GC/MSD文件和。

维护和可靠性特点

模件分析仪汇编提供对细丝离子源的完全通入和更加快速的定期维护的电子乘法器。

前面玻璃窗提供简单的来源证明，并且重要连接一个完全看法。

高可靠性真空系统保证长期表现; 可利用的无油的泵装置实际上消灭泵浦维护，减少噪声，并且可以使用与腐蚀性气体例如氨。

与新的三倍轴探测器的完全5975C联盟包括：

• 经济的5975C VL MSD -，常规分析的小脚印系统
• 5975C惰性MSD -高性能，需求分析的全面貌特征的系统
• 5975C惰性XL MSD -高性能，为复杂EI分析优选的全面貌特征的系统
• 5975C惰性XL EI/CI MSD -水平可利用GC/MS的表现和的生产力

设计金石英四极杆增强了性能和可靠性，1050 u

新的痕量离子检测技术降低了复杂基质中的检测限，提高了基线重复性。

惰性离子源-现在可以程序升温至350?C—增强了活性化合物和后洗脱组分的响应。

同步SIM/扫描模式让您在对感性趣离子进行高灵敏度选择性监测的同时，获得可进行谱库检索的扫描数据。

新的氢EI信噪比指标，可以在更安全的条件下实现更快速的分析——不会影响分析质量

所有电离模式都在一个自动化序列中；用标准EI离子源进行电子轰击（EI）电离，AutoCI功能使CI像EI一样容易

高效与初级组件

新的安捷伦7890A GC、6890 GC，和6850 GC达到了完美的互补。

咨询电话：    84210031