薄膜测量领域的#1品牌

PARTS利用垂直&偏角度双光源实现了更简便、更的薄膜测量

在已有分析能力强大的反射率-穿透率同时测量系统平台上，我们增加了散射率、临界入射角反射率的计算,从此无需建模即可对单层膜膜厚，光学常数n、k值进行测量!！多层膜的全面分析同样只需轻击鼠标即可轻松完成！

分析优势

PARTS符合行业标准,极小的占地空间、通用的USB接口,确保设备安装简单便捷。整机无任何运动件，除钨卤素灯外无需其他维护，确保设备高度可靠。全面、可靠的集成
得益于计算垂直(0°)入射和角度(70°)入射的反射率和穿透率，PARTS极大了提高了对薄膜应用场合（如：太阳能、OLEDs等行业）的分析能力。尤其，通过计算变量R0，R70，TO，我们可以简单便捷的实现膜层厚度，n、k值的测量。而且，由于增加了对散射率计算，使膜层的粗糙度测量从其它分析上分离出来，从而让我们可以实现膜层表面粗糙度的单独测量。

PARTS系列配有多种波长的产品以满足不同客户的需求，具体规格如下：

*以上数值会因薄膜堆叠层数变化而有所不同。

零配件清单如下：

• 光谱仪主机
• FILMeasure 6.0 软件光碟
• BK-7参考片
• Al2O3参考片
• Si参考片
• Anti-reflector
• 拭镜纸

• 拥有130多种材料的数据库
• 软件更新
• 工作日应用工程师24小时的技术支持
• 在线“手把手”支持
• 支持硬件升级