OLPF安装在阵列式光电成像器件(如CCD、CMOS)前面，以消除高于光电成像器采样空间频率的物

 光束成份对成像的干扰。由于CCD、CMOS光感应元件是采用非连续性取像方式，所以有拍摄细纹时

会产生不必要的杂讯，光学低通滤波晶片即是提供消除此杂讯的功能。因细纹的方向不同需要用对

应角度的低通滤波晶片加以消除，又因不同的型号CCD、CMOS光感应元件在规格上有些差异，为针

对不同型号及同时兼顾不同方向的低通效果，所以需用各种不同切割角度（如45度、0度、90度）、

片数、厚度和IR CUT组合成低通滤波晶片设计，才能去除拍摄所带来的杂讯。在使用CCD、CMOS光感

应元件拍摄彩色景物时，因CCD、CMOS对颜色的反应与人眼不同，所以必须将光感应元件所能侦测的

而人眼无法侦测的红外线部份除去，同时调整可见光范围内对颜色的反应，使影像呈现的色彩符合

人眼的感觉，所以在低通滤波晶片表面镀上IR（AR）CUT（干涉式）或配玻璃（吸收式）使用。

技术指标

 材料：光学水晶

 角度：可根据OLPF设计要求制作

 尺寸：1/3、1/4等（外形可根据客户要求制作）

 厚度：   单片（1.08、1.22、1.63）

           双层（1.85、1.97、2.78）

           三层（2.58、3.03、3.43）

 镀膜：AR、IR、夜视IR

  光谱透过率

　　日夜                    普通

 波长(n m)　　透过率(%)波长(n m)透过率(%)

 400--620Tavg≥93400--620Tavg≥93

 400--620Tmin≥88400--620Tmin≥88

 650±10T = 50  650±10T = 50

720　　　 T < 2720　　　　 T < 2

 740~1050Tavg< 1.5740~1050Tavg< 1.5

 1050-1100Tavg< 41050-1100Tavg< 4

 850±10　  T > 90