供应二维图像测量系统
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品牌 | 上海西光 | 型号 | MICROTEST |
二维图像测量系统
仪器特点及用途: 二维图像测量系统是专门为精密测量显微镜开发的计算机二维图像处理系统。该系统运用计算机图像处理技术,将计算机与光学仪器有机地结合成一体,同时能对多个图像(动态)进行几何元素的测量,使测量过程更加方便,更加,是智能化测量的有效工具。 | ||||||||||||
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*测量功能 |
采用WINDOWS98界面,所有操作均由鼠标控制,可进行点、线、园、弧、直线度、园度、螺纹等的测量。测量过程结束后,可在计算机屏幕上显示工件轮廓图。快速测量功能能方便、快捷地显示各种所需的测量数据,极大地提高了测量效率。 |
*计算功能 |
测量过程结束后,工件轮廓图显示在计算机屏幕上,各种计算求值全部由鼠标完成。 |
*图形编辑功能 |
可以对工件轮廓进行修改,产生新的轮廓图。 |
*打印功能 |
所有测量结果,计算结果以及工件轮廓图均以文件方式保存在计算机中,可随时调用,随时打印。 |
*CAD接口 |
通过CAD接口可以方便、快捷地将工件轮廓图转到AUTOCAD中,充分利用AUTOCAD的功能,可以方便地将测量轮廓图转换成工件图纸,从而可以方便实现零件仿制工作。 |