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图文详情
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产品属性
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品牌 | 上光厂 | 型号 | 一米平面光栅摄谱仪31WIA |
用 途
本仪器利用平面反射式光栅分光研究物质的成份和含量,主要用于金属合金(包括矿物井石)的日常定性定量分析,纯金属和材料的杂赞同鉴定,与各种附件配合,用作激光微区分析、记录闪光和弱光现象。
技术参数
工作波段:200-850nm
摄谱仪焦距:F=1050mm
相对孔径:1:22
狭缝主要指标:宽度范围 0.002-0.3毫米
宽度分度值 0.001毫米
宽度再现性 0.001毫米
有效高度 10毫米
波长显示:计数器(±1nm)
光栅:1200条/mm 2块外形尺寸:(长、宽、高)1300*1500(包括导轨在内)*600mm
仪器成套性
31WIA平面光栅摄谱仪 1台
聚光镜组(一)及其座子 1组(保护片4片)
聚光镜组(二)及其座子 1组
燕尾形导轨 1根
暗盒240*90(mm) 2盒备用一只
毛玻璃 1块
8X放大镜 1只
“十字盖” 1只调整透镜照明系统用
I、II级光谱滤色片 各1组 装在小木盒内
1200条/mm平行光栅(闪耀波长300nm) 1组
1200条/mm平行光栅(闪耀波长600nm) 1组
1800条/mm平行光栅(闪耀波长300nm) 1组
太阳镜 1付
电极架(包括快速电极夹2付) 1组
使用说明书(连同标准样片) 1份
谱线图 1套
合格证 1份
工作台 1套
ADE-20交直流电弧发生器 1台
太阳镜 1付
安装工具(内六角板头) 1把
装箱单 1份
连接导线 5根
保险丝0.5A 3只
转椅 1把