供应一米平面光栅摄谱仪31WIA(图)
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品牌上光厂型号一米平面光栅摄谱仪31WIA
一米平面光栅摄谱仪31WIA的具体信息:

用 途
     
本仪器利用平面反射式光栅分光研究物质的成份和含量,主要用于金属合金(包括矿物井石)的日常定性定量分析,纯金属和材料的杂赞同鉴定,与各种附件配合,用作激光微区分析、记录闪光和弱光现象。

技术参数
工作波段:200-850nm
摄谱仪焦距:F=1050mm
相对孔径:1:22
狭缝主要指标:宽度范围 0.002-0.3毫米
         宽度分度值 0.001毫米
         宽度再现性 0.001毫米
         有效高度 10毫米
波长显示:计数器(±1nm)
光栅:1200条/mm 2块
外形尺寸:(长、宽、高)1300*1500(包括导轨在内)*600mm

仪器成套性
31WIA平面光栅摄谱仪            1台
聚光镜组(一)及其座子             1组(保护片4片)
聚光镜组(二)及其座子             1组
燕尾形导轨                    1根
暗盒240*90(mm)             2盒备用一只
毛玻璃                      1块
8X放大镜                   1只
“十字盖”       1只调整透镜照明系统用
I、II级光谱滤色片   各1组 装在小木盒内
1200条/mm平行光栅(闪耀波长300nm) 1组
1200条/mm平行光栅(闪耀波长600nm) 1组
1800条/mm平行光栅(闪耀波长300nm) 1组
太阳镜                    1付
电极架(包括快速电极夹2付)         1组
使用说明书(连同标准样片)         1份
谱线图                    1套
合格证                 1份
工作台                  1套
ADE-20交直流电弧发生器       1台
太阳镜               1付
安装工具(内六角板头)       1把
装箱单               1份
连接导线              5根
保险丝0.5A             3只
转椅                 1把