平面测量光谱仪介绍  
用途 用于平面光谱透射比、反射比测量，光路中可加偏光镜。
测量范围 样品形状：棱镜、平行平板的透射反射，平面反射镜的反射、透镜的透射、组装镜头的透射等。
样品大小：Φ10mm以上
波长：可见光380~800nm。紫外光或红外光的测量可根据客户定制，价格稍贵。
入射角：8°以上任意角度。
技术参数 波长分辩率：1nm
  校正线性度：99.8%
  测量相对误差：1%
  单次测量时间：小17ms
  功耗：200W
  电源：210~245V，60Hz
  信号接口：USB2.0
  操作系统：windowsXP  

对比岛津的或日立的光谱仪优缺点：    
优点：    
1、 测量速度快，一般约1秒/件，比岛津或日立的  
 快十几到几十倍。   
2、 测量范围广，各种入射角或反射角都能方便测量，  
 各种棱镜、平板的透射和反射光谱，   
 透镜的透射、组装镜头的透射光谱都能测量。  
3、 价格便宜。
缺点： 对于要求测量波长跨度大的产品需要分开进行测量。   

（价格中不含电脑）