供应检测硅晶体缺陷近红外分析仪
价格:电议
地区:广东省
电 话:86 0755 82838457
手 机:13714097770
传 真:86 0755 25331367
品牌McBain型号DDR300 Defect Detection
测量范围900-1700nm测量300mm
外形尺寸-(mm) 用途检测硅晶体缺陷近红外分析

DDR200和DDR300的200毫米和300毫米晶圆缺陷检测和审核,在这个特殊的价值和应用和价格的分类特征无法比拟的。该系统提供生产和工程用重要和独特的优势,并提供一个理想的解决方案,当两个缺陷的检测和尺寸测量是必需的。它们可以作为专用的生产工具或通用流程开发工具。                

主要特点   
•200mm或300mm的XY平台
•高炉/东风(标准),Nomarski(可选),紫外和红外版本
•缺陷检测,分类和审查(审查只可选)•反射光(标准),透射光的面具检查(可选)
•视频自动对焦(标准),激光自动对焦(可选)
•杆/螺母通用驱动交叉滚子轴承的阶段,或
•高速线性马达平台
•单色或彩色的500万像素数码相机
•晶圆和掩膜装可供选择
•标准工作距离,工作距离长和超长工作距离目标
•2倍,5倍,10倍,20倍,50倍,100倍,150倍, 200倍的目标(20倍放大至2000x)
•6英寸垂直行程
•手动或电动的X,Y,Z和Theta轴选项

 

请与我联系陈先生