供应复合式二次元测量仪
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产品属性
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品牌 | YVM-T系列影像测量仪 | 型号 | YVM-4030T |
测量范围 | 400*300*300 | 测量 | (3 L/200)um |
外形尺寸 | 960*820*940(mm) | 用途 | 光学测量仪对工件精密过行检测 |
特点:
1、00级高稳定性花岗石底座。
2、采取瑞士TESA光学读值测量系统。
3、YR-3T多功能影像、探针互锁量测软件。
4、台湾制高耐磨V型导轨。
规格说明:
型号:YVM-4030T
测量范围:400(X)X300(Y)X300(Z)mm
:
线性:(3+L/200)um
重复:3um
小显示位数:0.001mm
系统小解析度:0.0001
量测方式:
1、影像式+探针式
2、进口高清晰度彩色摄像机
3、台湾制0.7-4.5Zoom变焦镜头 倍率变化:20X-220X
4、瑞士TESA测头:¢2、¢3mm
5、工作距离范围:115mm(影像)
6、世界电脑:DELL/PC机/17"纯平电脑
量测软体:YR-3T
工作温度:20±1℃
操作温度:13-35℃
是否符合电磁兼容实验:OK
机台重量:350Kg
外观尺寸:960*820*940mm
工作台范围大小:600*400mm
工作电压:220V
测头:
单一方向重复:≤0.75um
测头压力调整:0.1-0.3N
螺牙:M2-M3
长度:
测针廷长杆材料:不锈钢或是钨钢