仪器介绍

该X荧光光谱仪，它不同于其它的测厚仪的下照式和封闭样品腔的设计，而是采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量

应用领域：黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业。

主要特点

该X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定

1、主要针对大部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定；
2、同时可分析多达5层以上镀层；
3、相互独立的基体效应校正模型，先进厚度分析方法；
4、采用上照式、开放式样品腔；
5、采用上下活动的玻璃屏蔽罩，避免了测试的X射线外泄；
6、三维的样品移动平台和双激光定位；
7、现代化的外观、结构和色彩；

技术参数

仪器技术指标：

元素分析范围从钠（Na）到铀（U）。
可同时分析多24个元素。
分析检出限可达1ppm。
分析含量一般为1ppm到99.9％。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
多次测量重复性可达0.1％。
长期工作稳定性为0.1％。
温度适应范围为15℃至30℃。
电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源。 

配置：

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

售后服务承诺及价格：1、仪器一年保修。

2、产品终身维修，提供上门维修和排除故障服务。

3、产品软件终身升级。

4、上门安装，并对用户操作人

员进行培训。                                     5、产品价格是含税价（17%增值

税发票），并包运费。