X650可为电镀客户提供更佳的X荧光测量方案，X射线从上向下照射样品，不同大小形状的样品更方便放置及测量。X650的手动操作系统为用户提供方便可靠的镀层测厚、镀液分析、简单元素分析或贵金属分析方案。标准配置为20倍彩色CCD系统用于样品图象观察；简易手动样品台，Z轴升降调节，操作简单；单准直器及多准直器可选，激光对焦及定位系统，二次滤光片多种可选方式及封气式正比计数器。
完善的X荧光分析软件基于基本参数法（FP法）或校正曲线法，确保了完美的测量结果。仪器易于操作，软件界面更具人性化。 元素含量
分析指标 | 分析范围：100PPM-99.99% 准确度：相对误差5%以内
精密度：相对标准差5%以内 检出限：100PPM | 测试时间 | 镀层测厚：10-100秒
元素分析：60-300秒 | | X光管 | 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 | 样品台 | 简易手动样品台，Z轴升降调节，操作简单 | | 探测器 | 正比计数器 | 测试软件 | 基本参数法 | | 滤光器 | 二次滤光 | 重量 | 100千克 | | 准直器 | Standard configuration: 1 collimator (Ф3mm / Ф1mm /
Ф0.5mm / Ф0.2mm /Ф0.1mm); Multi- collimators Options | 软件 | 镀层测厚软件，元素分析软件 | | 样品观察 | CCD高彩色摄像头 | 配套 | 标准液体测量杯 | | 对焦系统 | 镭射对焦 | 稳压系统 | UPS稳压电源 | | 测量方向 | 从上向下 | 电脑 | 联想电脑 | | 可测元素 | K到U | 打印机 | 彩色喷墨打印机 |
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