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供应 X850/850B X荧光光谱仪 RoHS&
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型号X850850B X荧光光谱仪 RoHS
X850/850B X荧光光谱仪 RoHS&测厚
规　　格：X850/850B
产品备注：手动/电动/镀层测厚/RoHS/材料元素分析/镀液分析
产品类别：化学元素分析类仪器
 
   产 品 说 明
特点

  ·可同时检测RoHS、镀层测厚、镀液分析和元素分析

  ·XYZ三维移动样品台，镭射对焦，操作简单

  ·多种准直器和滤光机制可供选择

  ·光闸系统，防止X光泄漏，操作更安全

  ·人性化软件界面设计，易学易懂，更方便人员操作

  ·探测器采用先进的电制冷方式，无需液氮制冷，增加安全性

  ·无需复杂的前处理过程，可以原样放入，检测准确度和精密度高，检测限达到1PPM
 元素含量
 分析指标		 分析范围：1PPM-99.99%  准确度：相对误差5%以内
 精密度：相对标准差5%以内 检出限：1PPM  		镀层厚度
检测指标 		 准确度：相对误差层5%，第二层10%以内
 精密度：相对标准差5%以内   检出限：0.01μm 
 X光管 50W(4-50KV  0 -1.0mA)标配 测试软件 基本参数法
 探测器 硅锂半导体探测器 定性功能 自动标示存在元素
 滤光器 滤光 定量功能 出厂前完成标定曲线，客户直接测试，无需标样
 准直器 多准直器可选，自动切换 结果 自动生成
 样品观察 CCD高彩色摄像头 数据处理 MS-Word
 对焦系统 镭射对焦 软件 RoHS检测软件，镀层测厚元素分析软件
 测量方向 从上向下 重量 100kg
 可测元素 K到U 稳压系统 UPS稳压电源
 测试时间 镀层测厚：10-100秒
 元素分析：60-300秒		 电脑 联想电脑
 样品台 XYZ三维移动样品台，操作杆、软件双重控制 打印机 彩色喷墨打印