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图文详情
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产品属性
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品牌 | 西凡 | 型号 | EXF7800 |
光源 | X光管 | 波长范围 | 50-60(nm) |
焦距 | 50(mm) | 外形尺寸 | 30(mm) |
重量 | 45(g) | 适用范围 | 珠宝店,典当行,首饰厂 |
供应西凡金银检测仪器
EXF7200--是集西凡仪器多年贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来能满足贵金属成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成。
EXF7200--贵金属检测仪使用高效而实用的正比计数盒探测器,(项目联系人金先生 ①③⑤③⑧②①⑧⑤②①)以实在的价格定位,满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,加上全软件控制的自动调整移动平台和切换准直器的装置,使仪器操作更人性化、更方便。
应用领域:
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
激发源: Mo靶的X光管风冷(无辐射)
测量点尺寸:1~2mm
样品室: 长400 mm×宽: 300mm×高: 0~90 mm样品放大成像系统
软件: 菜单式软件,带硬件参数调整和数据评估及计算
计算机: 选择配置
检测器: 固定式半导体封气正比计数器微处理器控制的检测器和读出电路
其它规格:
电压: 100~127或200~240V,50/60 Hz
功率: 120W
处尺寸: 500mm*500mm*400mm
重量: 48kg
技术指标
分析范围: 1%~99.99%
测量时间: 自适应
测量: ±0.1%
测试环境: 常温常态
分析元素: Au、Ag、Pt、Pb、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、Cd﹑W
X射线源: X射线光管
高压器: 4~50Kv
分析: 多通道模拟
操作系统: Windows2000/Me/XP