TS-300-P型相移栅线投影测量仪

栅线投影测量技术可以测量物体的表面三维形貌，通过测量不同状态下形貌的变化就可以测量物体的三维变形。栅线投影测量具有很大的量程范围，因此，该方法特别适用于大变形测量。同时该仪器采用了正弦栅线和相移技术进行栅线变化的位相分析使得测量分辨率可达到X、Y方向尺寸的五万分之一。

主要技术指标：

1、正弦栅片的栅线密度：6线/mm

2、投影镜头：f25mm （可选用变焦镜头和远心镜头）

3、相移驱动：步进电机

4、摄像头分辨率：1280×1024

5、成像镜头：f25mm （可选用变焦镜头和远心镜头）

6、物面栅线密度：通过选用不同镜头连续可调

7、三维形貌测量范围：X、Y（300mm×300mm），Z（100mm）（选用显微镜头可做细观测量）

8、测量分辨率（X、Y尺寸的）：1/1000（X、Y方向），1/20000（Z方向）

9、测量距离（f25镜头）：300mm～1200mm

10、投影仪光源：150w