黄金眼剪切干涉测量系统(激光散斑错位干涉测量)
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图文详情
产品属性
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类型 | 散斑干涉仪 | 品牌 | VEW |
型号 | GE100000 | 品种 | 散斑干涉仪 |
测量范围 | 30×40CM | 测量分辨率 | 1392×1040 |
近工作距离 | 1(mm) | 用途 | 用于检测复合材料内部的非均匀性,如分层、脱粘、夹杂等 |
用于复合材料检测的黄金眼剪切干涉测量系统(激光散斑错位干涉测量系统)
黄金眼剪切干涉无损检测系统主要用于检测复合材料内部的非均匀性,如分层、脱粘、夹杂等。显示出的非均匀性可用鼠标进行标记,从而确定所显现缺陷的横向大小和在测量视场中的位置
该测量技术用激光照射材料表面,将反射回的波面横向平移一定位移后同未平移的波面进行自我干涉,形成干涉条纹。当被测材料由于开裂,剥离,内部包含异物,凹陷,受挤压,或是多层材料出现脱层等现象,则材料表面的干涉模式会出现局部不连续。
该系统由VEW与不来梅应用光学研究所(BIAS)合作开发
与采用电机驱动反射镜的其他常规剪切干涉系统不同,黄金眼系统首次使用了电控的空间光调制器
(SLM)来实现剪切和相移。(已申请)测量场可以进行动态或温度加载。
动态加载通过压电传感器(Piezo)来实现。压电传感器经真空紧密贴合在材料表面,由软件控制产生高能量的振动。其振动频率可变,从而可与材料的机械性能相匹配。温度加载则可通过热光源的照射来实现。