JX-2000A型：
应用范围：配置透射显微镜，适用于电子、磨料、陶瓷、药品、涂料、水泥、化工、食品、农药、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土、硬质合金、催化剂、燃料、炸药、云母粉、耐火材料、填料、石墨、颜料等各种粉末物料，玻璃纤维，矿岩成分判断（偏光）。

JX-2000B型：
应用范围：配置透反射显微镜，适用于冶金、电子、陶瓷、磨料、涂料、硅灰石、医药、金属、非金属矿等各种粉体颗粒的形貌观察和粒度分析；还可用于陶瓷.金属合金等各种不透光的物体表面结构的观察测试。

主要性能：光学显微镜放大成像，级摄像头，高速高分辨率图像采集卡，图像动态快速显示于电脑，直接观察粉体颗粒的形貌，专用软件进行粒度分析。全平场消色差物镜，分辨率0.07微米，光学放大倍数1600倍，图像显示和打印倍数4000倍(A4幅面)。

测量范围：0.5μm～2000μm

分析软件：提供等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积等分布数据。同时提供D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等数据，配有(30)多种图像分析和处理功能，可以满足各种图像处理需要。

测量结果：颗粒形貌可存盘打印，还可输出多种格式的测试。另可根据行业特殊要求，设计磨料、硅灰石等专用软件。

测量方法：透射：将样品置于载玻片上，运行专用软件，由电脑分析处理，计算数据。
          反射：将样品置于物镜下方，运行专用软件，由电脑分析处理，计算数据。

图像采集：可调整图像高度、宽度、分辨率等。

图像分析处理：
  1.色调处理：负像、灰度化、色调调整、亮度、对比度调整；
  2.图像矫正：水平镜像、垂直镜像、90度（逆时针)、90度(顺时针) 、旋转、放大、缩小、任意比例缩放等；
  3.测量单位：微米、毫米、厘米、英吋任选；
  4.图像增强：对比度均衡、膨胀、腐蚀等；
  5.图像处理：图像锐化，边缘平滑，二值化，边界滤波，分析目标擦除、孔洞填充，手工擦除，手工连接，粒子属性查看、设置标尺、网格等功能；
  6.分析参数：
 （1）几何参数：每个颗粒的质心 X、Y 坐标位置，像素；
 （2）当量几何参数：等面积圆直径，等周长圆直径，长径，短径，长径比；
 （3）外接几何参数：每个颗粒的外接圆直径；
 （4）光密度参数：图像 R、G、B、灰度分布；
 （5）形态学参数：长径比，圆度系数； 
注：JX-2000B型透射功能和JX-2000A型相同
结果打印:多种数据格式