供应500X 干涉显微镜
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图文详情
产品属性
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类型 | 干涉显微镜 | 品牌 | CEWEI |
型号 | 6JA | 仪器放大倍数 | 500X |
目镜放大倍数 | 12.5X | 物镜放大倍数 | 40X |
适用范围 | 测量精密加工零件表面(平面、圆柱等外表面)光洁度的仪器。也可以用来测量零件表面刻线、刻槽镀层(透明) |
一、用途:
6JA干涉显微镜是用来测量精密加工零件表面(平面、圆柱等外表面)光洁度的仪器。也可以用来测量零件表面刻线、刻槽镀层(透明)等深度。仪器配以各种附件,还能测量粒状,加工纹路混乱的表面,低反射率的工件表面。同时还能将仪器安置在工件上,对大型工件表面进行测量。仪器测量表面不平深度范围为1-0.03微米,用测微目镜和照明方法来评定▽10-▽14光洁度的表面。本仪器适用于厂矿企业计量室,精密加工车间,也适用于高等院校,科学研究单位。
二、主要技术参数:
• 目镜:测微目镜12.5X,测微鼓轮分划值0.01mm
• 仪器放大倍数:500X
• 仪器视场:ф0.25 mm
• 物镜:40X,数值孔径0.65mm,工作距离0.5mm
• 标准镜:高反射率≈50%,低反射率≈4%
• 工作台:升降范围5mm,XY方向移动范围≈10mm,
360度旋转
• 绿色干涉滤色片:波长λ≈5300A,半宽度▽≈100A
• 测量表面光洁度范围:▽10-▽14
(相当于测量表面不 平深度范围为0.1um-0.03um)
• 光源:电珠灯泡6V15W,亮度可调