◆ 产品简介                                                                        

     JXZ—2型正置金相显微镜可用在观 察或研究分析不方便倒置的金属、硅片等反射标本、试样的表面结构，适用于厂矿企业、学校及科研机构等部门进行金属材料质量检验，金属零件处理后做金相组织分析。近年来逐渐广泛地应用于电子工业作晶体、芯片及新材料等方面的质量检验及其他反射标本表面微细结构的观察。

  
             铰链式                                      推拉式

◆主要技术参数：                                                                 

1、三目镜筒：瞳距50～75mm，视度调节±5°；        

（1）铰链式JXZ—2J型

（2）推拉式JXZ—2T型

2、无限远长工作距离平场半复消色差物镜：                        

（1）5×/0.13，W.D = 33.26mm；

（2）10×/0.25，W.D = 5.30mm；

（3）20×/0.40，W.D = 3.83mm；

（4）50×/0.80，W.D = 0.48mm（可调齐焦距，弹簧镜头）；

（5）80×/0.90，W.D = 0.87mm（可调齐焦距，弹簧镜头）

3、平场目镜：10×/18mm，16×/11mm；

4、总放大倍率：目视50×～1280×；

5、载物台：130mm×160mm；移动范围：纵向50mm，横向75mm。

6、照明：

（1）数字化调光，0～99级数显，有记忆功能；

（2）落射光柯勒照明：12V30W；

（3）透射光照明：12V20W。

7、0.5×CCD图像光学接口。

产品主要特点：

1、采用无限远像距色差校正光学系统，配长工作距离平场半复消色差物镜5×、10×、20×、50×、80×。成像清晰、分辨率高、视野平坦。

2、采用大数值孔径NA=0.51的柯勒落射照明系统。消杂散光好，衬度高。

3、采用单片CPU实现数字化调光：0～99级数显，有记忆功能。