类型	光学显微镜	品牌	VISION
型号	Hawk 5000 VED	仪器放大倍数	详见说明
目镜放大倍数	详见说明	物镜放大倍数	详见说明
重量	详见说明（g）	适用范围	详见说明
装箱数	详见说明

Hawk 5000 VED非接触式显微镜 - 综述

英国工业显微镜有限公司的Hawk 5000 VED是首款非接触式显微镜，具备在同一的测量过程中，可选择先进的视频边缘辨别测量工具以及使用手动的光学测量，给予使用者有能力应付更大批量的自动化日常视频测量工序，或针对单一的或关键零部件的高光学测量。

无论是任何的测量要求，Hawk 5000为广泛的的日常质量检测工序提供所需的高和灵活性。

 

光学测量？	视频测量？
光学测量适用于的标准、难以观察 / 单一的形状、或关键的测量 的高分辨光学成像适用于反差小、难以观察的元器件、复杂的形状、或同步的视觉检测	视频边缘辨别（VED）用于增强的效益测量 并适用于高反差的元器件、批量的日常工序、结构形状的测量、或形状有内外视野。

Hawk 5000 VED是英国工业显微镜有限公司的一款非接触式测量系统Hawk系列的高端系统产品，设计要求达到和可重复性的标准。可配置高精密和大容量测量平台，以及适用于各项应用的一系列照明装置。

• 高可重复的，全几何3-坐标（X，Y，Z）测量
• 的光学成像明确地辨别轮廓，提供卓越的分辨率和对比度
• 集成视频摄像机，能兼备视频和光学两种的测量，达到极其灵活性
• 强劲的和直观的计算机软件以及数据处理功能
• 可选配全自动化（CNC VED）

直观的计算机软件

Hawk 5000 VED测量系统专为一些用户要求精密元器件的特大批量测量及高分辨的视觉检测、或紧公差的高光学测量、精密元器件、或难以观察的形状，如反差小的塑料。QC-5000计算机软件集成通用的设置规则与强劲的数据处理和分析工具，包括统计学的运算管理（SPC）以及CAD导入/导出。

 

Hawk 5000 VED质量管理工具 - 详细说明

Hawk 5000 VED是以、精密和自动化为主而设计，从而非常适用于对各类型复杂元器件形状的高、高批量的质量管理工作。Hawk 5000 VED给予令人钦佩的度、可重复性以及重现性，并具备全几何的计算机数据处理和视频边缘辨别（VED）测量，专为应付特大批量测量以及单一的元器部件测量。

全自动化视频测量

视频测量要求的成像处理软件、和结合一个精密的测量平台。

Hawk的QC-5000计算机视频处理软件内置一套测量工具，从简易十字线测量到多边的视频边缘辨别，以确保和可重复性的标准。

Hawk 5000 VED可选配各种高规范、高性能的测量平台，提供测量规格可达 400毫米x 300毫米。所有的测量平台均已通过非线性误差修正（NLEC）方法进行出厂前的预装校准，以保证优良的，这校准可溯及NPL/NAMAS/NIST国际标准以符合ISO9000质量。结合0.5μm分辨力的测量译码器，这保证该系统2μm的可重复性。*

优异的光学技术

Hawk 5000 VED采用英国工业显微镜有限公司的高能光学技术，为和简易的测量，提供强化的表面清晰度。优异的光学透明度给予单一或难以观察形状的快捷、准确测量，同时能同步地进行细致的视觉检测。

直观的微处理器

数据处理由 QC-5000全几何的计算机软件完成，并适用于测量复杂的三维元器件形状。QC-5000软件专为应付繁忙的质量控制部门的需求而设计，功能包括简化复杂的测量程序，提供强劲的数据导入、导出以及分析工具，亦包含统计学的运算管理（SPC）。

选配件和附属配件

表面光和底部光照明装置选配件能使光源调节适用于任何测量应用。表面光照明装置由一组6-点光的无影环形灯提供，可加装同轴光装置（光线透过物镜）的选配件，用于观察盲孔或深层形状。快速更换的低放大倍率选配件为：x10倍、x20倍、x50倍和x 100倍（x20倍作为标配），配置高倍率物镜，并可装插在四孔位的物镜转换器上，其放大倍率为：x50倍、x100倍、x200倍、x500倍和x 1000倍。

轮廓		表面		轮廓和表面

 

* 采用200毫米 x 150毫米的测量平台（x200 的系统放大倍率，控温摄氏20度，使用在玻璃格栅上可追溯镀铬件以及在标准测量平面上的交叉点）

QC-5000 VED计量软件

Quadra-Chek计量软件是二维和三维几何元器件测量和检测的首要系统。QC-5000计量软件是非接触式测量系统Hawk系列里的界面装置，提供一个指令性处理方法，准许使用者能够沿着测量过程的每一步骤。的功能以及运用提升效益的视频边缘辨别（VED）可减少反复测量和简化复杂的工作步骤。

QC-5000采用直观的拖-放数据域、宏指令和数据库模板，还包括编程及自动化工具。

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构造和导入

直观的显示
QC-5000的是一个简便、可观察的零部件轮廓视窗和配备常规的工具栏，以阐明测量步骤。一贯的、直观的设置保证操作员的准确性和减少培训时间。

终生升级
功能性的升级可通过Quadra-Chek网站获取，不需软件合同。当允许时，注册的用户将收到电子邮件的提示。

软件培训及援助
在每套设备安装的同时，提供全套的现场或非现场培训，并且可针对个别的要求而进行。额外的应用支持可帮助自选定制的工序和流程的建立。

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测量

测量戏法®
要进行测量，只需简单地将光标移至测量点并按击。无须操作员介入，QC-5000辨别被测形状的类型。的测量戏法®功能，使用者无须改变对零部件的视线就能检测多个形状，提高效益、改进准确性和减少使用者的疲劳过度。

声音和彩色暗示，通过模拟的‘下一步’ 提示性语音，在不中断工作流程下，帮助精简使用者的操作。

交叉及构建
选择两个或多个形状获取交叉及构建。

运算
针对特殊的测量需要和复杂的运算，结果栏运用嵌入公式能自选制定而（例如，自动计算面积或每次圆形测量的圆周尺寸，或进行多形状系数混合运算）。

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编程和自动化

零部件编程
运用一个易于使用和全面的编程设置，简化复杂的或反复的测量序列。性编写一个测量次序，然后能按你所需重复地运行。在相同的次序里，一个又一个地对每个零部件，测量等量的点数。

简化的程序创建
为后续零部件启动记录功能，驱使软件“学会”测量顺序、公差和结果汇编功能。

CAD文档导入
从零部件程序导入预存的零部件技术规范，以启动零部件编程处理并，消除转录错误。

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数据管理及输出

零部件成像归档
记录并存储零部件的图形测量结果、包括尺寸和为更新记录的其它信息。作为便利的、连持续的质量控制和归档的参考。

数据管理
集成工具允许以各种不同格式进行数据的采集、归档和检索，并采用自选定制的试算表格，从而简化复杂的管理或非标准计算。

输出
合理化对使用者、管理层、部门之间以及质量控制团队的交流。自选定制的能被发送到各种不同的应用、打印机或与数据库，并有能力在遍布企业或进行交换格式化的数据。

公差显示
QC-5000将数据集中的转换化为解释图形，操作员能够迅速得知附加了公差的几何形状测量结果。彩色编码的结果显示绿色或红色分别代表了合格或不合格。

综合数据库
现场进行保存、检索以及处理大量的测量数据。

整理
通过拖-放模板简化了数据选取和格式，建立高素质的。保存、打印或电邮测量结果至小组各成员进行审阅。

数据导出
方便地传输测量数据至CAD进行逆反推理应用，或至微软软件上进行数据处理。

Hawk 5000 VED测量显微镜 - 技术规范

Hawk 5000 视频边缘辨别
放大倍率选配件	x10, x20*, x50, x100, x200, x500, x1000
表面照明装置选配件	150瓦6-点光环形灯* 100瓦同轴光（光线透过物镜）
底部光照明装置	100瓦，底部光
数据处理器选配件	QC-200 QC-300 QC-5000*

* 标准选配

高精密的测量平台选配件◊
150毫米 x 150毫米 测量平台选配件		200毫米 x 150毫米 测量平台选配件
测量范围X Y Z†	150毫米 150毫米 200 - 250毫米	测量范围X Y Z†	150毫米 150毫米 200 - 250毫米
平台玻璃负荷	15公斤	平台玻璃负荷	20公斤
译码器分辨率X Y Z	0.001毫米 0.001毫米 0.0005毫米	译码器分辨率X Y Z	0.0005毫米 0.0005毫米 0.0005毫米
平台可重复性X Y Z	0.002毫米 0.002毫米 0.008毫米	平台可重复性X Y Z	0.002毫米 0.002毫米 0.008毫米
测量误差	U952D = 4+(5.5L/1000)μm‡	测量误差	U952D = 2+(4.5L/1000)μm‡

高性能的测量平台选配件◊
300毫米 x 225毫米 测量平台选配件		400毫米 x 300毫米 测量平台选配件
测量范围X Y Z†	300毫米 225毫米 40 - 89毫米*	测量范围X Y Z†	400毫米 300毫米 40 - 89毫米*
平台玻璃负荷	25公斤	平台玻璃负荷	25公斤
译码器分辨率X Y Z	0.001毫米 0.001毫米 0.001毫米	译码器分辨率X Y Z	0.001毫米 0.001毫米 0.001毫米
平台可重复性X Y Z	0.010毫米 0.010毫米 0.010毫米	平台可重复性X Y Z	0.010毫米 0.010毫米 0.010毫米
测量误差	U952D = 15+(6.5L/1000)μm‡	测量误差	U952D = 15+(8.5L/1000)μm‡

* 附加支架延伸配件后，能增大距离。
† 取决于配置。
‡ L = 长度，毫米（x200 的系统放大倍率，控温摄氏20度，使用在玻璃格栅上可追溯镀铬件以及在标准测量平面上的交叉点）。