UM-1超声波测厚仪

我厂开发的生产的UM-1超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-1超声波测厚仪具有小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或小厚度值；数据存储；报警功能。

UM-1技术数据

工作原理：脉冲～回波方式
测量范围
0.8～300mm取决于所用探头、所测材料、表面状况

单位和显示分辨率

毫米-0.1
英寸-0.01

探头零点校准
一点校准（用于常规的厚度测量）
两点校准（测量曲面壁厚或特殊应用时，可显著提高测量）

V路径修正
自动V声程修正，补偿双晶探头的非线性度

示值误差
±0.1mm  (10mm以下)
±0.5% H +0.01 (10mm以上)
注：H为被测物厚度

重复性
±0.1mm
显示屏
128×64点阵液晶屏（42×57毫米）, 具有EL背光，可调节对比度, 厚度值数字高度可达13.75毫米
测量刷新频率
常规测量时4Hz，小值扫查时25Hz

材料声速范围
1000～9999m/s，0.0394～0.3937in/us

数据存储
划分5个数组，可存储500个厚度值

工作语言
中文、英文

电源
两节1.5VAA电池,当电池电量不足时，有低电压提示

操作时间
两节5号电池，使用时间可达200小时

自动关机
5分钟无操作后自动关机

工作温度
-10℃～+50℃，有特殊要求可达-20℃

尺寸
149mm×73mm×32mm (H×W×D)

重量
含电池200g

标准配置
UM系列测厚仪
标配探头
仪器箱
两节碱性电池
耦合剂
操作手册
合格证
装箱单

选配件
橡胶外套；众多可供选择的探头；校准用阶梯试块；耦合剂及高温耦合剂