薄膜开口性(爽滑性)测定仪
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产品型号MXD

薄膜开口性(爽滑性)测定仪执行GB 10006、GB/T 17200、ASTM D1894、TAPPI T816、ISO 8295等相关测试标准,适用于测量塑料薄膜和薄片、纸张等材料滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数。通过测量材料的爽滑性,可以控制调节包装袋的开口性、包装机的包装速度等生产质量工艺指标,满足产品使用要求。
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本薄膜开口性(爽滑性)测定仪信息由LABTHINK兰光销售部:颜红 发布。