按键寿命试验机，开关寿命测试仪
硒控按键寿命试验机，开关寿命测试仪可测手机、PDA、电话机、电脑键盘、电子字典之按键及锅仔片、麦拉片、微型开关等按钮、开关之耐久寿命试验。可同时工作、单独工作、测试数个产品（每个产品均可多点测试），按键可以选择不同荷重。

技术参数
1、规格：三工位（或订做五工位）；
2、速度测试范围：15-100次/分钟 速度可调试；
3、测试受台承受力10KG；
4、测试头荷重：50G、100G、200G（共三套砝码）；
5、受台上下行程120mm；
6、测试台置物有效尺寸：120 x 200mm
7、冲击运动方式：采用电机凸轮驱动，上下采用直线轴承运动、定位精准、无框动；
8、计数仪表采用可调7位数，0-999999次；
9、电压：220V

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