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产品属性
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CX-501插回损测试仪可以进行宽动态范围及高的光插入损耗回波损耗测量。由于采用了大动态范围和微弱信号检测等先进的信号处理和软件处理技术,它对光回波损耗可在-75~0dB的动态范围内进行测量,具有当前国际先进水平。
主要特点
*超强电路设计,对大动态范围和微弱信号检测分析处理
*回损测试动态范围达75dB
*插损及光功率计测试动态范围大(-80dBm~+3dBm)
*功率计模块波长与光源模块的波长联动,明显减少操作步骤
*整机外观紧凑、美观、实用,指标稳定、可靠,操作简单
*插回损采用彩色液晶显示,有效减轻操作人员视觉疲劳
*彩色颜色闪动报警提示,让操作更加简单便捷。
*独特的光源接头可拆卸便捷清洁设计并提供全面的功率计接口配置
技术指标
仪表型号 |
CX-501 |
光回波损耗测试 | |
工作波长 |
1310/1550nm |
测试范围 |
0 ~ 75 dBm |
校准波长 |
1310/1550nm |
测试 |
0.25dB |
输出稳定性 |
0.02dB/小时 ( @ 25℃) |
接口类型 |
FC/APC |
光插入损耗测试 | |
校准波长 |
850/1300/1310/1550nm |
测试范围 |
+3 ~ -80 dBm |
测试 |
0.25dB |
显示分辨率 |
对数:0.001dB;线性:0.001nw/μW/mW |
测试模式 |
线形和非线性 |
处理功能 |
系统校准、系统调零、波长选择 |
接口类型 |
活动接口, FC/SC/ST/通用φ2.5mm/通用φ1.25mm等适配器 |
电源 |
AC 90-260V |
工作温度 |
-5℃~+55℃ |
外观尺寸 |
300X300X |
重量 |
3kg |
品牌/商标
创欣
企业类型
制造商
新旧程度
全新
原产地
深圳