Planum-3000全自动透光率/反射率测定仪
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Planum-3000全自动透光率/反射率测定仪
用途:用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/反射率、透过率测量,偏振光测量,膜性测量。
Planum-3000全自动透光率/反射率测定仪-技术参数:
类别 |
I型 |
II型 |
III型 |
探测器 |
Sony
ILX511 x线形CCD阵列 |
Sony
ILX511 x线形CCD 阵列 |
Hamamatsu S7031背照式2D-CCD |
检测范围 |
380-1000nm |
380-1100nm |
360-1100nm |
波长分辨率 |
<1.35nm |
<1.35nm |
<1.35nm |
信噪比(全信号) |
250:1 |
250:1 |
1000:1 |
相对检测误差 |
<0.6%(400-800nm) |
<0.6%(400-800nm) |
<0.2%(400-800nm) |
操作方式 |
手动 |
电动 |
电动 |
角度分辨率 |
0.1 o |
<0.0002o |
<0.0002o |
重复定位: |
- |
<0.005 o |
<0.005 o |
旋转速度: |
- |
25 o/s |
25 o/s |
透射/反射测量角 |
>8o , <80 o,可扩展到5o |
||
单次测量时间 |
<100ms |
||
S/P光测量 |
可以 |
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样品尺寸 |
>5mm |
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操作系统/接口 |
Windows XP Vista /USB2.0 |
||
产品尺寸 |
1020mm*485mm*300mm |
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功率/电源: |
100W/220V-50HZ |
||
其他 |
可自定义打印报表格式,开放式光学材料光坯反射率数据库 |