美国Thermo Scientific X-射线荧光能谱仪的详细信息

美国Thermo Scientific ARL QUANT'X X-射线荧光能谱仪： 能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。 先进的技术独特的 Peltier 电制冷 Si (Li) 检测器数字脉冲处理 (DPP) 技术高性能、多元素分析 主要功能出色的痕量分析灵敏度高分析量的进程控制适用于异常材料的分析算法出色的样品处理灵活性机械简化和灵活性占地面积小、易于运输以进行野外测量快速、简易的安装以及可完全现场定制随附完整的实验室启用套件经验证的硬件和全套软件现场、协同方法开发完整的技术应用支持汇集了数百种应用的知识 功能强大、易于使用的 WinTrace*软件无标和半无标分析基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法多层厚度及成分不限元素、不限数量的标样利用自动化操作实现多个激发条件 可用于：悬浮颗粒物过滤器符合 RoHS 及 WEEE 的分析法医及痕量分析营养补充剂磁性介质和半导体土壤污染过滤器上的薄膜塑料中的有毒元素