ＨＰ８７５３Ｃ网络分析仪
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图文详情
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产品属性
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ＨＰ８７５３Ｃ网络分析仪的详细信息
★集成化1Hz分辨率合成信号源
★用外部磁盘驱动器直接存储/调用
★时域分析
★用测试序列功能实现复杂的测试过程
★达100dB的动态范围
★可测量群延迟和与线性相位的偏离
★0.001dB,0.010,0.01ns的标记分辨率
★提高内置
★扫描谐波测量
射频网络分析仪HP8753C描述
HP8753C网络分析仪为实验室和生产测试领域提供了优越的RF网络测量设备。当组合一套测试装置，它为分析300kHz~6GHz的有源和无源网络、器件与元件的线性特性提供了完满的解决途径。网络分析仪有两个独立的显示通道，你可以同时测量待测器件的反射和传输特性，并以重叠或分离屏面的形式观察测量结果。便于使用的预编程按键使你能快速测量待测器件的幅度、相位或群延迟特性。
测试时序功能允许键入来迅速、反复执行复杂的任务。在时序工作方式下，只需从面板测量，分析仪便能储存键入，以至无需额外编程。还可以利用测试时序经HP-IB端口对其它装置进行控制。另一些提高效率的措施包括绘图仪/打印机缓冲区、极限测试、任意频率测试和标记跟踪功能。分段校准和内插误差修正能提高HP8753C分析仪已校频率范围的某一区段上的矢量。
集成化的合成信号源提供大于100mW的输出功率、1Hz频率分辨率和线性、对数、列表、功率和连续波扫描类型。三个调谐接收机在300kHz ~ 3GHz(选件006扩展到6GHz)上在超过100dB的动态范围内进行独立功率测量或同时进行比值测量。当HP8753C连接HP85047A测试装置时，可以从300kHz~3GHz或从3MHz~6GHz(测试装置带有倍频器)研究待测设备的反射和传输特性。非线性器件测试
HP8753C具有测量非线性器件特性的能力，当增加了谐波测量功能（选件002），可以直接或相对于基本载波（dBc）显示放大器的扫描、二次和三次谐波电平。当一个作为基本信号的扫描频率低于16MHz时，可以快速和方便的测量达40dBc放大器谐波，使用同样的测试设备通常还用来测量增益。功率计校准相对输入或输出电平敏感的器件提供稳幅的功率。HP8753C自动对HP436A、HP437B、或HP438A功率计进行控制，使在测试系统中任何处的功率都调到具有功率计的。分析仪还完成混频器统调和变频损耗测量。还能进行固定IF和扫描IF测量。时域分析
HP 8753C（带选件010）具有显示网络时域响应的功能，分析仪计算频域响应的傅立叶逆变换，显示网络的反射或传输系数与时间的关系。
HP 8753C提供了两种时域模式，低通模式提供传统的时域反射计(TDR)测量能力，并给出网络的阶跃响应和冲击响应。这种模式给出在不连续状态的阻抗(R，L，C)类型的信息。带通时域模式，只有脉冲激励，没有频率限制，并给出频率选择设备的时域响应，比如SAW滤波器或天线。选通功能可以用来选择性隔离一个信号响应，并观察一个没有自身线路干扰的部件的单个部分的频域响应。HP 8753C一般技术指标
信号源
频率特性
范围：300kHz ~ 3GHz
分辨率：1Hz
准确度(25℃)：±10ppm
输出特性
功率范围：-5 ~ 20dBm
电平(50MHz, 10dBm)：±0.5dB
电平线性：
-5~0dBm：±0.5dB
0~15dBm：±0.2dB
15~ 20dBm：±0.5dB
阻抗：50Ω
谐波：
≤-25dBc(20dBm输出电平)
≤-50dBc(0dBm输出电平)
非谐波
与混频器有关的非谐波寄生信号：
≤-32dBc(20dBm输出电平)
≤-55dBc（0dBm输出电平)
其它寄生信号：
f<135MHz：-60dBc
f≥135MHz：-60dBc 20*log(f/135MHz)dBc
相位噪声(1Hz带宽，10kHz偏置)：
f<135MHz：-90dBc
f≥135MHz：90dBc 20*log(f/135MHz)dBc接收机
频率范围：300kHz~6GHz
输入：A，B 100dB动态范围<3GHz,95dB动态范围3~6GHz
灵敏度(噪声电平)：
3kHz带宽：
-90dBm<3GHz,
-85dBm 3~6GHz
10Hz带宽：
-100dBm<3GHz,
-95dBm 3~6GHz
输入电平：0dBm
阻抗：50Ω
输入交叉干扰：
300kHz~1GHz：-100dB
1GHz~3GHz：-90dB
3GHz~4.5GHz：-85dB
4.5GHz~6GHz：-75dB
动态：±0.05dB,±0.3o群延迟特性
范围：1/(2×小孔径)
孔径：可选择的
：频率间隔的20%
小：(频率间隔)/(点数-1)
分辨率：27.8/孔径（Hz）
典型值0.01ns
：相位/360×孔径（Hz）
射频连接器：50ΩN型（阴）结构特性
尺寸：178mm(高)×425mm(宽)×498mm(长)
重量：净重22公斤S参数测试装置
★集成化1Hz分辨率合成信号源
★用外部磁盘驱动器直接存储/调用
★时域分析
★用测试序列功能实现复杂的测试过程
★达100dB的动态范围
★可测量群延迟和与线性相位的偏离
★0.001dB,0.010,0.01ns的标记分辨率
★提高内置
★扫描谐波测量
射频网络分析仪HP8753C描述
HP8753C网络分析仪为实验室和生产测试领域提供了优越的RF网络测量设备。当组合一套测试装置，它为分析300kHz~6GHz的有源和无源网络、器件与元件的线性特性提供了完满的解决途径。网络分析仪有两个独立的显示通道，你可以同时测量待测器件的反射和传输特性，并以重叠或分离屏面的形式观察测量结果。便于使用的预编程按键使你能快速测量待测器件的幅度、相位或群延迟特性。
测试时序功能允许键入来迅速、反复执行复杂的任务。在时序工作方式下，只需从面板测量，分析仪便能储存键入，以至无需额外编程。还可以利用测试时序经HP-IB端口对其它装置进行控制。另一些提高效率的措施包括绘图仪/打印机缓冲区、极限测试、任意频率测试和标记跟踪功能。分段校准和内插误差修正能提高HP8753C分析仪已校频率范围的某一区段上的矢量。
集成化的合成信号源提供大于100mW的输出功率、1Hz频率分辨率和线性、对数、列表、功率和连续波扫描类型。三个调谐接收机在300kHz ~ 3GHz(选件006扩展到6GHz)上在超过100dB的动态范围内进行独立功率测量或同时进行比值测量。当HP8753C连接HP85047A测试装置时，可以从300kHz~3GHz或从3MHz~6GHz(测试装置带有倍频器)研究待测设备的反射和传输特性。非线性器件测试
HP8753C具有测量非线性器件特性的能力，当增加了谐波测量功能（选件002），可以直接或相对于基本载波（dBc）显示放大器的扫描、二次和三次谐波电平。当一个作为基本信号的扫描频率低于16MHz时，可以快速和方便的测量达40dBc放大器谐波，使用同样的测试设备通常还用来测量增益。功率计校准相对输入或输出电平敏感的器件提供稳幅的功率。HP8753C自动对HP436A、HP437B、或HP438A功率计进行控制，使在测试系统中任何处的功率都调到具有功率计的。分析仪还完成混频器统调和变频损耗测量。还能进行固定IF和扫描IF测量。时域分析
HP 8753C（带选件010）具有显示网络时域响应的功能，分析仪计算频域响应的傅立叶逆变换，显示网络的反射或传输系数与时间的关系。
HP 8753C提供了两种时域模式，低通模式提供传统的时域反射计(TDR)测量能力，并给出网络的阶跃响应和冲击响应。这种模式给出在不连续状态的阻抗(R，L，C)类型的信息。带通时域模式，只有脉冲激励，没有频率限制，并给出频率选择设备的时域响应，比如SAW滤波器或天线。选通功能可以用来选择性隔离一个信号响应，并观察一个没有自身线路干扰的部件的单个部分的频域响应。HP 8753C一般技术指标
信号源
频率特性
范围：300kHz ~ 3GHz
分辨率：1Hz
准确度(25℃)：±10ppm
输出特性
功率范围：-5 ~ 20dBm
电平(50MHz, 10dBm)：±0.5dB
电平线性：
-5~0dBm：±0.5dB
0~15dBm：±0.2dB
15~ 20dBm：±0.5dB
阻抗：50Ω
谐波：
≤-25dBc(20dBm输出电平)
≤-50dBc(0dBm输出电平)
非谐波
与混频器有关的非谐波寄生信号：
≤-32dBc(20dBm输出电平)
≤-55dBc（0dBm输出电平)
其它寄生信号：
f<135MHz：-60dBc
f≥135MHz：-60dBc 20*log(f/135MHz)dBc
相位噪声(1Hz带宽，10kHz偏置)：
f<135MHz：-90dBc
f≥135MHz：90dBc 20*log(f/135MHz)dBc接收机
频率范围：300kHz~6GHz
输入：A，B 100dB动态范围<3GHz,95dB动态范围3~6GHz
灵敏度(噪声电平)：
3kHz带宽：
-90dBm<3GHz,
-85dBm 3~6GHz
10Hz带宽：
-100dBm<3GHz,
-95dBm 3~6GHz
输入电平：0dBm
阻抗：50Ω
输入交叉干扰：
300kHz~1GHz：-100dB
1GHz~3GHz：-90dB
3GHz~4.5GHz：-85dB
4.5GHz~6GHz：-75dB
动态：±0.05dB,±0.3o群延迟特性
范围：1/(2×小孔径)
孔径：可选择的
：频率间隔的20%
小：(频率间隔)/(点数-1)
分辨率：27.8/孔径（Hz）
典型值0.01ns
：相位/360×孔径（Hz）
射频连接器：50ΩN型（阴）结构特性
尺寸：178mm(高)×425mm(宽)×498mm(长)
重量：净重22公斤S参数测试装置