MC-2000D涂层测厚仪
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MC-2000D涂层测厚仪的详细信息
    /*110922_中文版_新中间页_中间_300*250*/ var cpro_id = 'u620430'; 一、概述    MC-2000D型涂层测厚仪(镀层测厚仪)测量范围:0~9000um,它是高新技术的结晶,它采用单片机技术,高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻;且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准,其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。