XRF分析仪,EDXRF分析仪,仪器,设备的详细信息

/*110922_中文版_新中间页_中间_300*250*/ var cpro_id = 'u620430'; 采用国际上先进的由美国生产的半导体制冷的新型探测器，电制冷，无需液氮制冷，可常温保存，使用方便。同时这款探测器内置信噪比增强器，提高了仪器和检出下限，金属的有害物质检出限比原有探测器高出近5倍。可用于玩具安全检测。 技术指标※. 测量元素:从硫至铀等 75 种元素※. 元素含量分析范围:1ppm-99.99%※. RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)※. 测量时间: 60-300s※. 能量分辨率为： 155±5eV※.  测量: < 0.05%※. 高压：5-50kV※. 管流：50-1000uA※. 温度适应范围： 15-30℃※. 相对湿度：≤70％※. 仪器功率：≤90瓦※. 电源：交流 220±5V（建议配置交流净化稳压电源）※. 超大样品腔，尺寸Φ450×90mm※. 可同时分析24个元素※. 重量：110kg 配置移动样品平台加强的金属元素感度分析器放大电路信噪比增强器（SNE）计算机、喷墨打印机自动选择滤光片多种准直器自动自由切换三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序样品腔上盖自动升降软件定位样品平台小 联系方式联系人：李先生电话：传真：邮箱：ty.