供应微电脑多镀层测厚仪
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图文详情
产品属性
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类型 | 镀层测厚仪 | 品牌 | 中科院 |
型号 | HM-DT-A | 测量范围 | 0-0.000001(mm) |
显示方式 | 数示 | 电源电压 | 220(V) |
外形尺寸 | 450*330*120(mm) |
特点: 1、全自动数显显示,测量速度快,高,可达0.01um 2、可测量单金属镀层、合金镀层、复合镀层等,选购连电脑装置可测多层镍,迈金等微薄镀层 3、可测量中、高电位装饰铬、锌,可测量低电位镀锡层 4、选购1mm探头可测量微小试样之厚度 5、选购移动测试架可测量针状、棒状等试样。 规格: 1、测量范围和:0.01(0.0025)um-50(100)um,≤±10% 符合国标标准ISO2177-85 2、测量品种: 铜、镍、铬、锌、锡、银、镉、铟、金 Kind: Cu,Ni,Cr,Zn,Sn,Ag,Ge,In,Au A、单金属镀层;B、合金镀层;C、复合镀层;D、多层镍镀层; E、化学镀镍;F、线材上镀层 3、输出方式:厚度四位数字显示(其中两位小数) 3、电源:AC220V±10% 50Hz 4、仪器功耗:≥30VA 5、检测平面积:Ф1.4mm或Ф1.0mm(选购品)以上 6、本机型之打印机可选购