特点• 薄片型量爪可伸入非常小的凹槽和轨道，因此可更轻松地实现以前很难实现的外型测量。• 外径测量面带有硬质合金头。• 带有深度测量杆。• 带有SPC 数据输出(573 系列)。性能参数公制型 数显型测量范围货号0-150mm573-134-20 ±0.02mm 英制／公制型 数显型测量范围货号0 - 6"573-234-20 ±.001" 公制型测量范围货号0-150mm536-134 ±0.05mm0-200mm536-135 ±0.05mm0-300mm536-136 ±0.08mm以上是日本三丰薄片数显卡尺573，536系列的详细信息，如果您对日本三丰薄片数显卡尺573，536系列的价格、厂家、型号、图片有什么疑问，请联系我们获取日本三丰薄片数显卡尺573，536系列的新信息。