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SYDW噪声源定位分析系统是辅助设备厂商进行设备降噪设计的理想工具,能够帮助工程师快速地:找出设备上主要噪声源的位置、识别不同频带上的噪声源、提取感兴趣噪声源发出的噪声信号等。
系统功能:
声源定位:根据显示在设备图片上的各位置处噪声能量大小,用户可快速地找出主要噪声源。
声源识别:可识别不同频带上的主要噪声源及其所在的位置。
声源信号分离:可从复杂的设备噪声信号中分离出指定位置处的噪声源信号,然后进行频谱分析与声音回放,也可导出进行自定义分析。
频谱分析:可对任意时间段的噪声进行频谱分析,显示声音信号能量谱密度信息。
联合时频分析:以时间、频率为坐标轴,显示声音信号能量谱密度信息。
系统特点:
独特的多声源定位:在允许的分辨率范围内,系统可同时对多个声源进行定位。
简单的操作方式:将麦克风阵列放置在设备前方一定位置后,运行系统软件即可对设备噪声进行采集与分析。
直观的显示方式:系统在拍摄的设备图片上显示各位置对应的噪声相对能量大小。
方便的阵列放置:无须将麦克风阵列贴近被测对象表面(d<<λ),增大了系统的“视野”,也避免了近场声全息方法对阵列位置约束的局限性。
灵活的阵列配置:阵列能够根据各种不同的声场状况进行灵活配置,以获得理想的分析效果。
SYDW噪声源定位分析系统的技术指标:(以标准麦克风阵列为例:8×8的均匀平面阵型,64个传声器)
指标 |
规格 |
指标简介 |
备注 |
物理范围 |
1.2m×1.2m |
在一定距离点上(1m、平行于阵列的平面上,系统能够分析的噪声源物理范围) |
增大阵列与被测对象之间的距离,可以扩大分析范围 |
分辨率 |
*0.35m |
系统区别不同位置噪声源的能力 |
减小距离、增加阵元或提高分析频率,可以提高系统分辨率 |
频率范围 |
800Hz~2500Hz |
— |
减小阵元间距,可以提高频率分析上限;反之,增大阵元间距,可以降低频率的分析下限 |
声压范围(3%失真) |
XdB~127dB |
— |
下限X等于背景噪声声压 |
工作温度 |
-10~50℃ |
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工作湿度 |
0~98% RH |
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