产品概述：

    威尔RC150系列粗糙度轮廓仪所配的RC测量软件拥有极强的修正功能、先进的算法，所配备的测量基准为高刚性闭式气浮导轨，再加之配备了高采集控制系统，使RC150系列粗糙度轮廓仪无论是测量上，还是测量功能上，在国内行业内处于。

技术特点：

1、高直线导轨
2、国内的高采集控制系统
3、双导轨及双传感器结构保证高大量程轮廓测量及高粗糙度测量
4、与CAD无缝结合，标注、操作方式与CAD一致
5、模块化设计使用户维护成本降至
6、具有针对性、性的系统保证测量的实时性及系统的稳定性
7、独立的粗糙度测量模块，实现粗糙度各项参数的测量

技术指标：

导轨直线度：0.3μm/50mm，全长0.5μm
X向采样隔间：0.1μm~1μm范围内自定义
X向光栅（进口）：0.2μm,全长0.5μm,
X向分辨率：0.1μm
R向传感器量程：10mm，保证有效：0.3μm,可定制20mm，有效1μm
Ｒ向传感器：0.001μm
测量速度：0.05mm/s,0.1mm/s，0.32mm/s，0.5mm/s 0.8mm/s,1mm/s,自定义，3mm/s
测力：7mN~30mN(可调）