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X光机透视仪 工业检测芯片元件检测X光机透视仪
价格：电议
地区：北京
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手 机：13260098998
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北京恒胜创新电子设备有限公司

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品牌恒胜创新型号BJI-G Series
测量范围40.5*30.5mm测量对象芯片、工业元器件、保险丝、热敏电阻、IC卡、热保护器等
测量227Lp/cm分辨率1620*1220px
尺寸210*255*270（mm） 重量2.7（kg）

恒胜创新BJI-G SeriesX光机透视仪

 

可用于高清X射线X光无损检测 芯片、电子元器件、电阻、电路等相关电子器件的X光机透视仪。

 

其他工业无损检测

  

特点

 

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业界高、超高清X光机透视仪

 

 

 

X光机透视仪检测透视每厘米内可分辨出高达227线！

 

数字化X射线机 配备《恒胜创新工业无损检测X射线机图像处理系统》可对图像进行丰富的处理及打印透视图像。

BJI-G Series对工业电子芯片的高清透视 输出的图像分辨率达到了1620*1220像素。
一块约40毫米长的工业电子芯片经过恒胜创新图像采集系统的处理后 可放大近1000倍。

图像灰度等级达到4600级，可完美清晰检测各类电子元器件及芯片内部状态。

  

 

参数

 

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管电压： 

70KV 

管电流： 

0.4mA  (高频)

成像尺寸：

40.5*30.5mm

分辨率 ：

227p/cm

传感器：

1/1.8”CCD

像元尺寸：

1620X1220

灰度等级：

4600级

图像格式：

bmp；lrd

外形结构：

可拆卸式一体机

全套组成：

X射线机主机+成像系统+计算机+使用手册+附件 

重量：

2.7KG（未含计算机重量）

功率：

65W（未含计算机功率）

供电：

220V或直流供电

 

 

介绍

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BJI-G SeriesX光机透视仪对电子芯片检测的局部效果

 

BJI-G Series 对电子元器件的检测 局部效果

 

 

 

 

 

X光机透视仪配备《恒胜创新工业检测X射线机图像处理采集系统》为无损检测透视的数字化提供了完美支持。
本系统可对图像进行 采集、放大、缩小、对比度、明暗、测量、角度、镜像、打印等多种操作。

 

 

 

 

BJI-G Series X光机透视仪 检测工作区

 

 

BJI-G Series X光机透视仪机身细节


 

BJI-G Series X光机透视仪工作检测中的外观 

 

 

BJI-G Series X光机透视仪使用手册及《恒胜创新工业检测X射线机图像处理采集系统》程序与驱动光盘

 

 

  

恒胜创新BJI系列  —— 助您发现新视界

  

用途

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