芯片针脚镀层厚度检测仪
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芯片针脚镀层厚度检测仪

芯片针脚镀层厚度检测仪是由天瑞仪器集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的 一 款X射线荧光镀层测厚及成分分析仪。仪器采用多导毛细管X射线光学系统,对于芯片针脚、微米级尺寸电子零件、晶圆微区等部件的镀层厚度和成分分析,能进行高效、准确的测量。

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芯片针脚镀层厚度检测仪多导毛细聚焦镀层检测技术

1、结合镀层行业微小样品的检测需求,研发适用于镀层检测的chao近光路系统,减少能量过程损耗。 搭载多导毛细管聚焦管,ji大的提升了仪器的检测性能,聚焦qiang度提升1000~10000倍,geng gao 的检测灵敏度和分析jing du 以及gao 计数率bao zheng 测试结果的准确性和wen ding 性。

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2、全景+微区双相机设计,呈现全高清广角视野,让样品观察geng quan mian ;微米级别分辨率,较好的man zu chao微产品的测试,让测试geng guang fan geng 便捷。

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3、优质的多导毛细管技术,信号qiang度比金属准直系统高出几个数量级。

4、多规格可选的多导毛细管,较好的man zu 用户不同测试需求。

5、gao jing 度XYZ 轴移动测试平台,结合双激光点位定位系统,可实现在样品测试过程中的quan zi动化感受, 一键点击,测试geng省心。

芯片针脚镀层厚度检测仪产品应用领域

 · 测量chao微小部件和结构,如:印制线路板、连接器或引线框架等;

· 分析chao薄镀层,如:厚度薄至2nm 的Au 镀层和≤30nm 的Pd 镀层;

 · 测量电子和半导体行业中的功能性镀层;

· 分析复杂的多镀层系统;

 ·quan zi动测量,如:用于质量kong zhi ling yu ;

 · 符合ENIG/ENEPIG要求,符合DIN ISO 3497,ASTM B568,IPC4552和IPC4556 标准。

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企业类型

制造商

新旧程度

全新

原产地

江苏苏州

测量元素范围:

11Na (钠)~92U(铀)

X射线管:

高功率W 靶、Ag 靶、Rh 靶射线管

多导毛细管光学器件:

φ25μm

X射线检测:

SDD 探测器

样品观察:

高分辨率CCD 变焦摄像头