四探针电阻率测试仪也有很多种，例如高温的或者常温的，不同的四探针电阻率测试仪针对不同的材料测量的参数也是不同的。

    举例，高温四探针电阻率测试仪可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻，主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。

    高温四探针电阻率测试仪就是，主要测量的参数就是半导体材料的电阻、电阻率、方块电阻等。

    电阻率测试仪性能特点

    多参数同屏显示：电阻率、温度同屏显示。

    微机化：采用高性能CPU芯片、高精度AD转换技

    术和SMT贴片技术完成电阻率和温度的测量、温度补偿、量程自动转换，精度高，重复性好。

    高可靠性：单板结构，触摸式按键，无开关旋钮和电位器。

    自动转换测量频率：避免电极极化，提高测量精度。

    相敏检波设计：消除导线对测量的影响。

    25℃折算：温度补偿自动测量/手动输入。

    防水防尘设计：防护等级IP65，适宜户外使用。

    电磁兼容性(EMC/RFI)设计：按欧洲标准EN50081/50082设计制造。

    报警功能：报警信号隔离输出，报警上、下限可任意设定，报警滞后撤消。

    工业控制式看门狗：确保仪表不会死机。

    网络功能：隔离的电流输出和RS485通讯接口；电流对应电阻率的输出上、下限可任意设定。

    采用流通式、沉入式、法兰式或管道安装。