新款WH82双基涂层测厚仪详细技术资料

产品介绍

新款WH82双基涂层测厚仪是一种便携式双基(铁、铝)测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室中的精密测量，也可用于工程现场广泛地应用在金属制造业、化工业、航空航天、科研开发等领域，是企业保证产品质量、商检测控、必不可少的检测仪器。

 

新款WH82双基涂层测厚仪符合以下标准

GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法

GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法

JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪

JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》

JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》

 

新款WH82双基涂层测厚仪产品特点

采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测量头的系统误差进行修正，保证仪器在测量过程中仪器的准确性;能快速自动识别铁基体与非铁基体具有电源欠压指示功能操作过程有蜂鸣声提示;设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式;有负数显示功能，保证仪器在零位点的校准准确性;有显示平均值、值、值功能

 

测量原理

采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、 油漆等)及非磁性金属基体(如铜、 铝、 锌、 锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

a) 磁性法(F 型测量头)

当测量头与覆盖层接触时，测量头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。

 

b) 涡流法(N 型测量头)

利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测量头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测量头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

 

新款WH82双基涂层测厚仪技术参数

测量范围	0-1500um
工作电源	两节 5 号电池
测量误差	零点校准 ±(1+3%H);二点校准±【(1%～3%H)】H+1.5
环境温度	0-40℃
相对湿度	≤85%
基体	10*10mm
曲率	凸：5mm;凹 ：5mm
最薄基体	0.4mm
重量	115 克(含电池)
尺寸	102mm*66mm*24mm

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