具有穿透涂层功能，不再需要费时费力的去除涂层工作了，

我们之前在国内推出了具有穿透涂层技术的U M - 1 D测厚仪， 现在U M - 4 D与U M -4 D L同样具备这一广受好评的功能。该功能是通过测量基材的两个连续底面回波实现的。在该模式下还具有更多的优势：
1、免零点校准；
2、高稳定性， 测量值不受探头压力、耦合层厚度和工件表面灰尘污渍的影响；
3、零漂移
业界首款彩屏、带A扫描快照的全数字测厚仪UM-1超声波测厚仪