天瑞镀层仪器EDX2000A  X 荧光光谱仪是针对的电镀、化镀、热镀等镀层厚度和含量测试的光谱分析仪器。

仪器测试特点：无损，快速，jing 密度高，测试过程简单，人性化， 样品测试部位图像电脑和仪器同步显示，可通过 XY 移动平台快速 ding wei 和仪器一键测试按钮，实现对测试部位的快速测量。

天瑞镀层仪器EDX2000A技术指标：

●  元素分析范围：钾（Al）到铀(U)

●  一次可同时分析 zui 多 24 个元素，5 层镀层

●  检出限：zui 薄可测试 0.005um

●  镀层厚度测试范围：0.005um—50um

●  X/Y 平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)

●  平台  ding wei jing 度：0.05mm

●  测量时间：5s-60s

●  计数率：0-8000cps

●  变焦摄像头清晰范围：0-50mm

●  多次测量厚度重复性 RSD 可达 2%

●  长期工作 wen ding 度 RSD 为 3%

●  测量示值误差范围：厚度＜1um 小于 10%；厚度≥1um,小于 5%

●  温度适应范围：15℃~30℃

●  输出电压 220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）

 天瑞镀层仪器EDX2000A应用行业：

●  金属镀层的电镀、化镀、热镀等镀层厚度分析测量

●  金属表面阳极氧化等涂覆层厚度测试

●  电镀液成分测试合、金镀层成分及厚度分析

●  首饰定性半定量分析以及镀层厚度分析和检测机构、电镀行业