EDX（Energy Dispersive Spectrometry）即能量色散 X 射线荧光光谱分析仪采用的 X 射线荧光光谱分析原理。X 射线荧光分析原理：当样品中元素的原子收到高能 X 射线照射时，即发射出具有一定波长的特征 X 射谱线。特征谱线的波长与元素的原子序数（Z）有关，而与激发 X 射线的能量无关。所以测定谱线的波长，就可知道试样中含有什么元素（即定性分析）；测量谱线的强度，就可知该元素的具体含量（即定量分析）。仪器工作原理：仪器高压电源给光管提供管压和管流，光管激发出连续的 X射线荧光光谱线（即原级 X 射线），原级 X 射线照射到样品上，样品产生具有样品特征的 X 荧光谱线，经过探测器后变成电压信号，信号经过放大和数据采集后传送给计算机，经软件处理后最终获样品的测量结果。

Fp 镀层厚度测试原理：如果考虑依次荧光，并将无限厚试样的荧光强度记为I∞，厚度为 T 的试样的荧光强度记为 IT，则其中 IT 为厚度为 T 的试用的荧光强度，I∞为试样镀层相同材料无限厚试用的荧光强度。将 IT/ I∞为纵坐标，而将 K=exp（-μ*sρT）作为横坐标，绘坐单镀层 X荧光厚度曲线图下图示：

从上表也可以看出，X 荧光测厚当镀层厚度达到一定厚度后，X 光所测量的强度不再发生变化，这说明用 X 荧光测厚是一定xian zhi 的，过厚的样品则视为无限厚样品。

X 荧光镀层测厚仪产品型号：EDX2000A

（1）外形尺寸：485（W）×588（D）×505（H）mm

 样品腔尺寸：430（W）×400（D）×140（H）mm

（2）重量 60kg

（3）X 射线源：X 射线管：W 靶材

X 射线管电压： 5——50KV，可调

X 射线管电流: 50uA——1mA，可调X 

射线管制冷： 密闭型风冷

（4）准直系统：标配￠0.3mm(可根据要求选配)

（5）滤光片：Al 滤光片(可根据要求选配)

（6）X 射线检测： FSDD 探测器

（7）样品观测配置

样品照明： LED 灯，上方垂直环绕照射

观察：彩色 CCD 变焦工业摄像头

倍率：15-25 倍

视野：6 X 4.8mm

变焦：0-40mm

（8）Z 轴调节：图像识别功能

高度激光对焦

（9）电动 XY 高 jing 度移动平台

样品台尺寸： 320（W）× 265（D）mm

移动范围：100mm(X) × 100mm(Y)

分辨率：5um

重复定位 jing 度： ＜10um

步进电机步距角： 1.8°

载重量：3 kg（无倾斜）

（10）Z 轴升降平台：最大升降幅度范围：0—140mm

（11）an quan bao hu 

操作人员在未关 gao 压的情况下打开屏蔽罩仪器会zi dong 断gao压。

（12）数据采集4096 道细分数据采集

（13）X 射线管工作情况监测系统

软件画面显示当前的管压，管流，元素峰通道，记数率等。

 (14) 电源：

电源输入：AC220±10%，5A，50/60HZ

应用行业：

? 金属镀层的电镀、化镀、热镀等镀层厚度分析测量

? 金属表面阳极氧化等涂覆层厚度测试

? 电镀液成分测试合、金镀层成分及厚度分析

? 首饰定性半定量分析以及镀层厚度分析和检测机构、电镀行业