晶振测试仪GDS-80石英晶振阻抗测试仪技术参数

发布时间:2025/2/24 14:48:00

基本参数

  • 测试频率范围:20KHz-100MHz任意设定
  • 负载电容:4-20pF任意设定
  • 负载谐振电阻:1Ω-300Ω,1K-300K
  • PPm范围测量:±300ppm
  • PPm测量精度:< 0.5ppm
  • 时基频率:16.384M
  • 晶振稳定性:2×10??/日
  • 体积:80×235×305(mm)
  • 保修期:三年

GDS-80小.jpg


测试参数

  • 谐振频率:
    • 串联谐振频率(Fs):测量精度±5ppm
    • 负载谐振频率(Fl):测量精度±5ppm+时基误差+0.5Pf*频率牵引力Ts
  • 阻抗特性:
    • 等效电阻(R1):测量范围1Ω-1000Ω(1MHz-100MHz),10K-300K(10KHz-200KHz)
    • 负载电阻(RL):测量范围1Ω-1000Ω(1MHz-100MHz),10K-300K(10KHz-200KHz)
    • 负载电容(CL):测量范围1-200PF
  • 动态性能:
    • 动态电容(C1):测量范围根据具体型号和配置有所不同
    • 动态电感(L1):测量范围根据具体型号和配置有所不同
    • 品质因数(Q值):测量范围10-100,000
    • 频率牵引力(Ts):测量范围根据具体型号和配置有所不同

其他参数

  • 扫描范围:±1000ppm(默认±400ppm)
  • 静电容(C0):可测量
  • 测试模式:具有串联谐振频率、负载谐振频率、等效电阻、负载电阻、负载电容、动态电容、动态电感、品质因数、频率牵引力等参数测量功能
  • 数据存储:支持500组数据存储,一键导出PDF/Excel报告