使用Galaxy TA Plus全功能国产质构仪对蛋糕硬度进行测试的方法

样品：蛋糕
仪器：Galaxy TA Plus全功能国产质构仪
测试模式：穿刺测试
测试前速度：3.0mm/s
测试速度：1.7mm/s
测试后速度：10.0mm/s
穿刺深度：6mm
触发模式：20g
去皮模式：自动
探头：针形探头
感应元：5KG优质高感应元

   中锦仪器为Galaxy TA Plus 量身打造探头与夹具。除了标准探头与夹具，中锦仪器可为客户量身定制的特殊应用方案需要的探头与夹具。迄今为止，中锦仪器储备有超过400种的特殊应用方案的配套探头，基本涵盖各行各业的使用需求。

   探头有不锈钢、铁氟龙、亚克力、塑料等各种材质，有柱形、球形、锥形、压板等各种形状，测试探头有400种以上（根据样品及实验内容选择合适探头），探头可以和市面上主流仪器通用，也可以按客户要求定制。