技术资料
thick800a镀层测厚仪详细配置:江苏天瑞仪器股份有限公司
发布时间:2017/3/14 20:27:00thick800a镀层测厚仪详细配置:江苏天瑞仪器股份有限公司
如需详细了解或测样比对请联系,天瑞仪器 李经理 :13151152858
型号:800a
原理:X射线荧光光谱仪
生产厂商:skyray
天瑞800A镀层测厚仪
详细配置信息:
硬件:主机壹台,含下列主要部件:
(1) X光管 (2) Si-PIN电制冷半导体探测器
(3) 信号检测电子电路 (4) 高二维移动平台
(5) 高清晰摄像头 (6) 高低压电源
(7) 开放式样品腔 (8)双激光定位装置
(9) 铅玻璃屏蔽罩
软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
技术指标:
1.1 分析元素范围:K-U
1.2 同时可分析多达5层镀层
1.3 分析厚度检出限达0.005μm
1.4 定位:0.1mm
1.5 测量时间:5s-300s
1.6 计数率:0-8000cps
1.7 Z轴升降范围:0-140mm
1.8 X/Y平台可移动行程:50mm(W)×50mm(D)
工作环境要求:
2.1 环境温度要求:15℃-30℃
2.2 环境相对湿度:<70%
2.3 工作电源:交流220±5V
2.4 周围不能有强电磁干扰。
性能特点:
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
天瑞800A镀层测厚仪