ADVANCED手动探针台应用领域，集成电路失效分析，晶元可靠性，元器件特性量测 ，塑性过程测试(材料特性分析)，制成监控，IC封装阶段打线品质测试，液晶面板的特性测试，PC主板的电性测试，ESD和TDR测试，微波量测(高频)，Solar太阳能领域检测分析，LED、OLED、LCD领域检测分析
应用：主要应用在半导体，微电子，电子，机电，物理，化学，材料，光电，纳米，微机电，MEMS，生物芯片，航空航天等科学研究领域，以及IC设计，制造，测试，封装、LED、LCD，OLED、LD，PD、PCB、FPC等生产制造领域。价格适中，稳定性强，可升级扩展，操作方便；在各大高校、研究所及半导体行业应用较广；

advanced Microtech 公司是包括集成电路 (IC)、芯片、电路板、模块、MEMS、3D TSV、LED 器件等在内的先进半导体器件的精密电气测量及测试领域中的。我们的工程用探针台和分析用探针广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。我们的量产用测试产品包括独特的探针卡、测试插座和 ATE 接触器，可降低高速及高密度半导体芯片的制造成本。
在我们已有的 800 家客户当中，网罗了 20 家销售收入的半导体制造商。这些客户采用我们的产品来进行众多器件的工程和量产测试，包括数字信号处理器、电信芯片、存储器芯片、微处理器、微控制器、图形处理器和专用集成电路的测试。我们所提供的精密测量能力使得全世界的半导体公司都能够跟上摩尔定律，并以更快的速度和更低的价格向市场投放其产品。
advanced Microtech 公司源自于 Eric Strid 和 Reed Gleason 在 1983 年开发个微波晶圆探针时的合作。在 1983 年以前，对于某款特定设计之所以奏效的原因，高速 IC 的设计人员只能够进行推测。当时无法在晶圆级上对这些微波电路的实际电气性能进行测量。通过运用 advanced Microtech 革新性的晶圆上探测解决方案，在 IC 被切割和封装之前，设计工程师们就可以在晶圆级上进行电路的实际测试及特性分析。这实现了研发时间的减半，并降低了开发新型芯片的巨额成本。自此之后，advanced Microtech 的晶圆上探测技术便成为了一项业界标准。