天瑞X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。

　　X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还必须防止样品的损失和沾污。　　1、由样品制备和样品自身引起的误差：　　（1） 样品的均匀性。　　（2） 样品的表面效应。　　（3） 粉末样品的粒度和处理方法。　　（4） 样品中存在的谱线干扰。　　（5） 样品本身的共存元素影响即基体效应。　　（6） 样品的性质。　　（7） 标准样品的化学值的准确性。　　2、引起样品误差的原因：　　（1）样品物理状态不同，样品的颗粒度、密度、光洁度不一样；样品的沾污、吸潮，液体样品的受热膨胀，挥发、起泡、结晶及沉淀等。　　（2）样品的组分分布不均匀 样品组分的偏析、矿物效应等。　　（3）样品的组成不一致 引起吸收、增强效应的差异造成的误差　　（4）被测元素化学结合态的改变 样品氧化，引起元素百分组成的改变；轻元素化学价态不同时，谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。　　（5）制样操作 在制样过程中的称量造成的误差，稀释比不一致，样品熔融不完全，样品粉碎混合不均匀，用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。　　3、样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等。　　（1）固体块状样品 包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等，其中金属材料占了很大的比例。　　（2）粉末样品 包括各种矿产品，水泥及其原材料，金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等；还有岩石土壤等。　　（3）液体样品 油类产品、水质样品以及通过化学方法将固体转换成的溶液等。　　

4、X荧光光谱仪分析法中不同样品有不同的制样方法。金属样品如果大小形状合适，或者经过简单的切割达到X 荧光光谱仪分析的要求，只需表面抛光，液体样品可以直接分析，大气尘埃通常收集在滤膜上直接进行分析。而粉末样品的制样方法就比较复杂。这里只对常见的固体和粉末样品的制样方法进行讨论，液体样品就不再讨论。

厂家介绍

江苏天瑞仪器股份有限公司是生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售一体型企业。 2011年1月25日，天瑞仪器在深圳创业板块上市。股票代码为300165。分析仪器行业的家也是目前一家上市公司，公司现有员工1100人，包括研发部、技术部、生产部、国内业务部及海外市场部、品管部、计划部、采购部、仓管部、人力资源部、财务部、及董秘处和行政部等部门，且公司规模日益壮大。公司拥有国际一流的X荧光分析技术领域的队伍，具有雄厚的资金势力、的技术水平、一流服务标准和先进的管理模式。同时，公司与国内外相关领域的研究院所和企业保持着密切的合作关系，实时追踪国际X荧光分析领域最前沿的理论和技术。目前公司已被授予“国家民营科技企业”、“江苏省高新技术企业”、“苏州市分析仪器工程技术研究中心”、 “江苏省昆山市企业技术中心”、“江苏省昆山市产品质量监督检验所RoHS检测二室”等称号。

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公司的X荧光检测技术具有快速、、无损的特点。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，如：电子电器（RoHS检测设备）、珠宝首饰（贵金属及镀层检测）、玩具安全（EN71-3）、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。

天瑞为所售仪器提供终身的拓展空间，在客户新产品研发所需检测的其它项目，天瑞的化学实验室可为客户提供、快速的样品分析。

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