X射线电镀测厚仪在电子工业材料中的应用
发布时间：2016/9/16 15:08:00
苏州实谱信息科技有限公司位于江苏苏州从事X射线荧光光谱技术研发生产的高新技术企业。我公司涉及X射线荧光光谱仪、ROHS测试仪、X-ray膜厚仪、X荧光陶瓷鉴定仪、镀金膜厚仪、便携光谱仪等产品解决方案，并具有多年的X射线荧光光谱仪相关产品与服务的销售和经验。凭借的技术，诚信的经营，和不断创新的精神公司发展迅速。在发展的同时公司不忘不断总结不断优化为客户的服务，和一如既往的热情赢得了新老客户的极高评价及青睐。
X射线电镀测厚仪技术参数：
元素分析范围：从硫（S）到铀（U）
同时分析几十种以上元素，五层镀层
分析检测限可达2ppm,镀层分析可以0.005um厚度样品
分析含量一般为1ppm到99.9%
镀层厚度一般在50um以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
温度适应范围：15度到30度
仪器配置：
高压电源：0-50kv
光管管流：0uA-1000uA
滤光片：可选择多种定制切换
探测器：Si-Pin/（SDD可选）
X射线电镀测厚仪应用方案:
塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、 其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
仪器长期稳定性评定
单镀层Ni/Cu稳定性测定：连续测定20次，计算其标准偏差和相对标准偏差，均能达到很好的效果。
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测量 次数 |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
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Ni(um) |
1.778 |
1.783 |
1.774 |
1.78 |
1.774 |
1.765 |
1.784 |
1.763 |
1.759 |
1.769 |
|
测量 次数 |
11 |
12 |
13 |
14 |
15 |
16 |
17 |
18 |
19 |
20 |
|
Ni(um) |
1.751 |
1.768 |
1.78 |
1.763 |
1.792 |
1.768 |
1.792 |
1.762 |
1.752 |
1.754 |
|
平均 厚度 |
1.771 |
标准 偏差 |
0.01231 |
相对标 准偏差 |
0.00695 |
? |
? |
? |
? |
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铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是工业中常见的，利用镀金膜厚仪可以获得很的结果。
荧光厚度与已知厚度样品结果对比：
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镀层标准厚度（μm） |
0.12 |
0.45 |
1.35 |
2.55 |
4.12 |
5.23 |
7.65 |
|
镀层荧光厚度（μm） |
0.11 |
0.48 |
1.37 |
2.47 |
4.06 |
5.35 |
7.58 |
铜上镀镍再镀金的双镀层厚度测量铁、铜等材料上先镀镍再镀金的厚度测量也是工业中常见的，见下表：
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镍镀层标准厚度（μm） |
0.15 |
0.85 |
1.30 |
2.15 |
4.56 |
8.13 |
9.55 |
|
镍镀层荧光厚度（μm） |
0.13 |
0.88 |
1.33 |
2.20 |
4.60 |
8.25 |
9.48 |
|
金镀层标准厚度（μm） |
0.23 |
0.45 |
0.75 |
1.15 |
1.22 |
1.53 |
1.65 |
|
金镀层荧光厚度（μm） |
0.21 |
0.43 |
0.77 |
1.17 |
1.26 |
1.55 |
1.58
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