膜厚仪检测镀银层

发布时间:2025/5/17 15:36:00

天瑞仪器膜厚仪检测镀银层 EDX600PLUS 是一款下照式结构的能量色散 X 荧光光谱仪镀层测厚仪,以下是它的一些详细介绍1:

详情介绍

天瑞仪器 EDX600PLUS 是一款下照式结构的能量色散 X 荧光光谱仪镀层测厚仪,以下是它的一些详细介绍:


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膜厚仪检测镀银层工作原理:将 X 射线照射在样品上,通过测量从样品上反射出来的二次 X 射线的强度来计算镀层等金属薄膜的厚度。由于采用 X 射线荧光技术,属于无接触无损测量,不会对样品造成损坏。


硬件配置:


进口的高功率高压单元搭配微焦斑的 X 光管,保证了信号输出的效率与稳定性。


采用高分辨率 Fast - SDD 探测器,分辨率高达 140eV,能精准地解析每个元素的特征信号,地将不同的元素准确解析,针对多镀层与复杂合金镀层的测量具有优势。


可搭配多种超小准直器,如 0.1×0.3mm、Φ0.15mm、Φ0.2mm、Φ0.3mm、Φ0.5mm 等,得到超小光斑,让更小样品的测量变得游刃有余。


设计亮点:


全新的下照式设计,一键式按钮,极大减少摆放样品时间。


全新的光路系统,大大减少了光斑的扩散,实现对更小产品的测试。


搭配高分辨率可变焦摄像头,配合高性能距离补正算法,可对不规则样品(如凹凸面、拱形、螺纹、曲面等)的异型测试面进行精准测试。


膜厚仪检测镀银层软件界面:人性化的软件界面,操作便捷。曲线有中文备注,易于上手。同时能实时监控仪器硬件功能,让使用更加放心。


功能特点:


测量方便快捷,无需液氮,无需样品前处理。

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能对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行精准检测,帮助企业准确核算成本及质量管控。


分析时间短,通常在 10 - 40 秒内即可完成测量,可检测出常见金属镀层厚度,分析测量动态范围宽,从 0.005μm 到 50μm。


膜厚仪检测镀银层应用领域:广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域,可用于连接器、汽车配件、线路板、半导体等产品的镀层厚度测量。