金属镀层测厚仪镀银层厚度分析仪

发布时间:2025/5/17 11:53:00

金属镀层测厚仪镀银层厚度分析仪实现全自动一键操作功能,准直器自动切换,滤光片自动切换,开盖随意自动停,样品测试照片自动拍照、自动保存,测试报告自动弹出,供应商信息自动筛选和保存。

详情介绍

1.png

金属镀层测厚仪镀银层厚度分析仪可以实现全自动一键操作功能,准直器自动切换,滤光片自动切换,开盖随意自动停,样品测试照片自动拍照、自动保存,测试报告自动弹出,供应商信息自动筛选和保存




 


测厚技术:台式电镀金属镀层测厚仪技术


测试样品种类:金属镀层,合金镀层

11.jpg

测量下限:0.003um


测量上限:30-50um(以材料元素判定)


金属镀层测厚仪镀银层厚度分析仪测量层数:10层


测量用时:30-120秒


探测器类型:Si-PIN电制冷 


探测器分辨率:145eV


高压范围:0-50Kv,50W


X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;


光管靶材:Mo靶;


滤光片:3种自动切换;


CCD观察:260万像素


微移动范围:XY15mm


输入电压:AC220V,50/60Hz


测试环境:非真空条件