X荧光膜厚测量仪产品介绍

X荧光膜厚测量仪Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

X荧光膜厚测量仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

X荧光膜厚测量仪定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加准确

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

X荧光膜厚测量仪型号：Thick 800A

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

X荧光膜厚测量仪

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

荧光镀层测厚仪主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和机构；电镀行业。