美国IST公司总代，自84年合作至今25年，德国贝莱克（Belec）直读光谱仪特约代理，公司老总徐国恩，从事电子测量仪器研发，营销，2广应用已三十余载，曾任北无仪销售科科长，设计所副所长，北京科奇半导体测试中心经理。2002年注册成立北京科奇时代信息工程技术开发有限公司，07年通过ISO9001质量体系认证。
　　
　　主要产品：
　　德国Belec直读光谱仪，包括固定式，便携式及台式经济型。
　　美国IST公司半导体器件参数测试仪
　　
　　自主创新产品：
　　ICT33C＋数字／模拟IC功能测试仪，ICT3100数字品质分选测试仪，ICT3198线性IC参数分选测试仪
　　ICT4080XP电路板故障检测仪，ICT950多层电路板短路追踪仪