一 、对被调试件的一般需要试件表层应洁净，无灰尘，无油污和无氧化皮。
二 、对试件表层温度的需要试件表层的温度不能过热，需要温度小于120℃。调试温度为4℃-38℃。
三 、对试件表层粗糙度的需要试件表层粗糙度应满足下表的需要，试件表层的粗糙度不但影响调试准确度，而且影响冲击球头的使用寿命。
冲击装备类型 试件表层粗糙度Ra 相当于原国标
D DC D+15 E DL 2μm 6
G 7μm 4
C 0.4μm 8
四 、 里氏硬度计 对试件重量的需要
①对足够重的试件不需要支撑，直接进行调试。
②对重量不太重的试件，有悬伸部分的试件以及薄壁试件，在调试时应使用物体支撑，以避免冲击力引起试件的扭曲、变形和移动。
③对重量较小的试件，应使其与重量大与5kg的支撑体紧紧耦合，需要试件与支撑体表层必须平整、光滑，耦合剂(凡士林，机油等)用量不宜过多，调试方向 必须垂直于耦合平面。冲击装备与试件重量的关系见下表：
冲击装备类型 不需固定支撑 需固定支撑 需耦合
D DC D+15 E DL 5kg 2kg 0.1kg
G 15kg 5kg 0.5kg
C 1.5kg 0.5kg 0.02kg
五、对试件表层硬化层厚度的需要
对于表层覆有硬化层的试件，为保证调试准确度，需要对应于不同的冲击装备试件表层硬化层厚度应符合下表规定：
冲击装备类型 试件表层硬化层厚度
D DC D+15 E DL 0.8mm
G －－－－－－
C 0.2mm
六、对板材、管壁型试件厚度的需要
对于板材、管材和其它薄片型试件的调试，为保证调试准确度，需要对应于不同的冲击装备试件厚度应符合下表
冲击装备类型 被调试件厚度
D DC D+15 E DL 3mm
G 10mm
C 1mm
七、对曲面试件保证调试准确度的需要
使用D型冲击装备，需要试件曲面半径大于30mm；使用G型冲击装备，需要试件曲面半径大于50mm。对不满足上述需要的球面、柱面和凹面等曲面试件，为保证 调试准确度，应采用异型支撑环（选购件）。
异型支撑环有如下规格：
外圆球面：K10-15mm，K14.5-30mm。
内圆球面：HK11-13mm，HK12.5-17mm，HK16.5-30mm。
外圆柱面：Z10-15mm，Z14.5-30mm，Z25-50mm。
内圆柱面：HZ11-13mm，HZ12.5-17mm，HZ16.5-30mm。
特殊形状：UN
八、对试件表层无磁性的需要
试件表层不能带有磁性，带有磁性的试件将影响调试准确度。需要试件剩磁应小于4G。
九、对试件无振动的需要
调试时，试件所处的周围环境不应有振动，否则会影响调试结果。

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